本文標題:原子的位錯缺陷的改變
信息分類:站內新聞 新聞來源：未知 發布時間：2014-9-4 10:57:41
原子的位錯缺陷的改變
透射電子顯微鏡原子的位錯缺陷的改變如果樣品原子的位
錯缺陷的改變某一特定的晶平面僅比最強的衍射角小一
點點，任何原子的位錯缺陷的改變晶平面缺陷將會產生非
常強的對比度變化。
透射電子顯微鏡原子的位錯缺陷的改變然而原子的位錯缺
陷不會改變布拉格散射角，因此原子的位錯缺陷的改變
也就不會產生很強的對比度。
透射電子顯微鏡原子的位錯缺陷的改變樣品中不同的原子
的位錯缺陷的改變元素可以導致射出原子的位錯缺陷的改
變樣品的電子能量不同。
將本頁加入收藏
下一篇：電子顯微鏡用的使用電子
上一篇：透射電子顯微鏡相襯技術
本文出自上海永亨光學儀器有限公司，本文地址：http://m.cqfhjd.com/xinwen/1081.html
工業顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業的供應商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
