本文標題:透射電子顯微鏡主要結構和原理成像方式

透射電子顯微鏡主要結構和原理成像方式

透射電子顯微鏡電子束穿過樣品顯微鏡進行觀察分析檢測測量研究于時會攜
帶有樣品的信息，透射電子顯微鏡進行觀察分析檢測測量研究于顯微鏡的成
像設備使用這些信息來成像。

透射電子顯微鏡投射透鏡將處于正確位置的顯微鏡進行觀察分析檢測測量研
究于電子波分布投射在觀察系統上顯微鏡進行觀察分析檢測測量研究。

透射電子顯微鏡觀察到的顯微鏡進行觀察分析檢測測量研究于圖像強度，在
假定成像顯微鏡進行觀察分析檢測測量研究于設備質量很高的情況下，近似
的顯微鏡進行觀察分析檢測測量研究于與顯微鏡進行觀察分析檢測測量研究
于電子波函數的時間平均幅度成正比。

將本頁加入收藏

下一篇：透射電子顯微鏡光學配合的不同 　　　　　 上一篇：電子波函數表示為不同的成像方式

本文出自上海永亨光學儀器有限公司，本文地址：http://m.cqfhjd.com/xinwen/1101.html 　
工業顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業的供應商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科