本文標(biāo)題:什么是顯微檢測(cè)時(shí)出現(xiàn)的干涉色
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-10-9 10:41:38
什么是顯微檢測(cè)時(shí)出現(xiàn)的干涉色
對(duì)于使用偏光顯微鏡對(duì)晶體表面進(jìn)行顯微觀察檢測(cè)
時(shí)，所出現(xiàn)的干涉色，則是由于顯微鏡在正交檢偏
位置的情況下出現(xiàn)的。
因此在這種情況下則需要使用各種不同的波長(zhǎng)對(duì)所
需要混合的光線進(jìn)行觀察晶體表面的雙折射體。
這就需要我們把顯微鏡上的載物臺(tái)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)，而在
視場(chǎng)中不僅僅是最亮的對(duì)角位置，同時(shí)還可以觀察
到晶體的顏色。
而晶體在顯微檢測(cè)時(shí)出現(xiàn)顏色的主要原因，則是由
于顯微觀察時(shí)干涉色造成的，而這種干涉色還可以
對(duì)物質(zhì)本身不是無色透明的物質(zhì)才行。
因此我們可以說晶體物質(zhì)表面檢測(cè)時(shí)的干涉色的主
要特點(diǎn)則分布玩的晶體雙折射的各類與晶體的切片
厚度進(jìn)行決定的。
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