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本文標題:掃描電子顯微鏡多種分析功能

信息分類:站內新聞　新聞來源：未知發布時間：2014-3-24 14:54:11

掃描電子顯微鏡多種分析功能

掃描電子顯微鏡觀測是通過進行化學腐蝕來實現的，由于不同極性

的程度不一樣，利用電體形成凹凸不平的區域從而可在顯微鏡中進

行觀察。

因此將樣品表面進行化學腐蝕后，利用掃描電子顯微鏡圖像中判斷

不同結構。對不同的晶體選擇合適的種類、濃度、腐蝕時間和溫度

都能良好圖樣。掃描電子顯微鏡與其他設備的組合以實現多種分析

功能。

實際分析工作中獲得放大像后，在同一臺儀器上進行原位化學成分

或晶體結構分析，提供包括形貌、成分、晶體結構或位向在內的資

料，以便更全面、客觀進行分析。

為了適應不同要求掃描電子顯微鏡上安裝附件，一機多用成為一種

快速、直觀、綜合性分析儀器。把掃描電子顯微鏡應用范圍擴大到

各種顯微或微區分析方面，充分顯示了掃描電鏡的多種性能及廣泛

的應用前景。

掃描電子顯微鏡的最主要組合功能有X射線顯微分析系統主元素的定

性和分析，分析區分信息；電子背散射系統用于晶體和礦物的研究。

隨著現代技術的發展顯微鏡分析功能出現，例如顯微熱臺和冷臺系統

，用于觀察和分析加熱和冷凍過程中微觀變化；拉伸臺系統用于觀察

和分析受力過程中發生微觀結構變化。